供应非晶硅薄膜组件测试仪

一、设备主要用途：适用于太阳能单晶，多晶，非晶及各种太阳能电池组件的电性能参数的测试和结果记录。
二、技术指标
1、设备主要技术指标
1.1、模拟光源
a、大功率脉冲氙灯
b、光谱范围符合IEC60904-9光谱辐照度分布要求AM1.5          A级
c、光强100mW/cm2（调节范围70～120mW/cm2）
d、光强不均匀度≤2%                            A级  
            e、辐照不稳定度  ≤2%                          A级    
f、氙灯德国进口
g、具有闪光次数记数功能（更换归零重置）
h、出光方下打光向上投射  
i、氙灯闪光时间10ms  
1.2、测试范围
a、有效测试面积：2000mm×1000mm
b、有效测试范围：2W～300W
c、测量电压：0V/30V/100V分辨率1mV）          量程1/16384
d、测量电流：0m  A～2A/20A（分辨率1mA）    量程1/16384
e、测量温度：15℃～35℃（分辨率0.1℃）
1.3、测试精度
a、测试重复精度：±0.5%
1.4、测量方式：四线测量
1.5、测试参数：Isc、Voc、Pmax、Vm、Im、FF、EFF、Temp  、Rs、Rsh
1.6、测试间隔时间：5秒/片
1.7、数据采集：  I-V曲线含8000个数据采集点
1.8、测试条件校正：自校正装置（包括手动输入补偿参数、自动/手动温度补偿、          光强自动补偿）
1.9、温度测量
a、半导体温度探头自动检测测试环境温度
b、温度补偿和显示
c、可对测试温度进行温度修正
1.10、测试结果
a、显示测试时间和图形化参数（I-V特性曲线）
b、测试结果具备折算到标准测试条件下的能力
c、测试结果语音报数和语音提示
1.11、测试报告
a、当前工作界面显示并可记录I-V特性曲线
b、可将所有组件的主要测试参数保存到硬盘的指定文件
c、指定的文件可以自主命名
1.12、数据汇总与打印
a、根据设定时间段或随时进行数据汇总
b、以Excel格式打印（包括I-V特性曲线累计输出）
1.13、专用软件
a、温度补偿系数输入
b、日期名称行列数输入
c、序列号起始设置自动递增
d、不良品参数范围设置
e、中英文界面切换和中英文内容打印
1.14、工作时间：设备可连续工作12小时以上
1.15、使用电源：单相220V  /  50Hz  /  2kW
1.16、设备外观尺寸：2500mm×1500mm×900mm
1.17、设备重量300  kg
2、设备整机配置
2.1、  测试主机（含电子负载）：一台
2.2、  光源：一套
2.3、  计算机：一台
2.4、  14位同步高速A/D板卡：一块
2.5、  专用测量软件：一套
2.6、  打印机（A4喷墨彩色打印机）：一台
2.7、  标准电池（用于调整光强和校正光强均匀度安装与测试仪内部）二片
2.8、  水平滚轮测试滑道    一套

三、设备性能指标：
    1.光源
1.1光源采用目前国际流行的脉冲氙灯模拟器光源，用腔体反射装置实现高均匀度的模拟太阳光，从而避免了因稳态阳光模拟器带来的温度对测试结果的影响。
1.2德国进口脉冲氙灯，并配有专用的滤光光学组件，确保测试光源的光谱正确，使用寿命长。
    1.3先进的精密恒光控制技术，辐照不稳定度:±0.5﹪波动范围。
          2.主要部件采用进口件
2.1脉冲氙灯——德国
2.2大电容——日本
2.3开关模块——日本

3.设备整机性能优越
3.1、独特技术确保设备性能更稳定，效率更高。
3.2、测试速度快。
3.3、连续24小时不间断工作。
3.4、电池测量采用四线连接，确保测量的准确性。
3.5、结构合理，安装维护更方便简洁。
3.6、各系统和部件合理配置，各部分和整机发挥最高效益。
3.7、控制面板人性化设计，操作简单程序化。
4.专用控制软件
4.1、根据行业特点专门设计，人机界面友好，操作方便。
4.2、特有的原始波形诊断功能。
4.3、严格按照GB/T6495.9---2006/IEC60904-9:1995标准进行温度补偿。
4.4、有语音报数和语音提示功能，提高的生产效率。
5.适用面广
能适应单晶硅、多晶硅等。
  四、适用场地标准：
1．测试场地5m×5m。
2．远离振动源、远离强电磁干扰。
3．地面平整洁净少尘。
  4．环境温度：15～35℃。
  5．总供电电源：单相220V  /  50Hz  /  2kW。