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反射率及薄膜厚度测量系统 

  • 价 格: 面议 /
  • 供 应 地:北京北京市
  • 发布公司:北京羲和阳光科技发展有限公司
  • 产品型号:
  • 品 牌:
  • 发布日期:2014/12/9 9:53:41
  • 联系人QQ:1419343158 点击这里给我发消息

详细说明

产品说明Explain

公司简介Content


应用范围:
?    薄膜太阳能电池
?    光学镀膜
?    平面显示器
?    LCD  and  LED
?    半导体及介电质
?    平滑与粗糙样品皆适用
系统特色:
?    即时运算
?    量测速度小于1秒
?    薄膜厚度,反射率CIE色度量测
?    易于操作,成本效益高
?    包含可追追溯反射率标准值
?    可同时适用平滑与粗糙样品
参考规格

量测功能    薄膜厚度,反射率,CIE色度
系统模式    反射式光源或反射式积分球(8/D,D/8Selective)
波长范围    380-850nm,380-1100nm,380-1650nm  or  custom
膜厚量测范围    300-400,000Angstrom
解析度    0.5-2nm
精确度    1nm
重复性    ±1%
量测速度    少于1秒
量测光源    高瓦素卤素灯源(最高可达1650nm)
适用样品    光学镀膜,蓝宝石GaN,彩色滤片,太阳能电池,偏光镜等等
系统平台    固定平台/x-ystage(行程100mm*100mm,150mm*150mm或客制比)/自动平台
量测软件    WINOOWs  Me,98,2000,XP  comparable.薄膜厚度自动设计软件,反射率,表面粗糙度,色差量测软件
选够    显微镜


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北京羲和阳光科技发展有限公司

  • 联系人:王小广(销售部)
  • 联系人QQ:1419343158 点击这里给我发消息
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  • 会员级别:免费会员
  • 认证类型:未认证
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  • 主营产品:少子寿命测试仪 硅锭探伤仪 硅料分选仪 硅片自动41点精密测 手动硅片测厚仪 碳氧含量测试仪 硅片表面线痕测试仪 硅料检测分选仪 太阳能级硅少子寿命测 硅棒、硅锭探伤仪 光伏检测显微镜 薄膜方块电阻测试仪 手持式电阻率测试仪 便携式硅料分选仪 钨钢探针 全自动硅片测厚仪
  • 公司所在地:北京北京市