供应LA-S全能型植物图像分析
万深LA-S全能型植物图像分析仪

该全能型的植物叶面积、病斑、虫损叶面积、叶色、根系、年轮、瓜果和木材剖切面分析仪系统是一种方便、可在野外或实验室使用的综合性分析仪器，精确度远高于传统的分析仪（传送或基于相机的类型）。采用全球统一标准，可精确、快速、无损伤地测定植物的多方面参数，功能强大、操作简单，内置支持网上在线升级的模块。该仪器综合了植物、农作物在上述7大方面的分析功能，广泛适用于农业、林业、气象等部门。  
万深LA-S全能型植物图像分析仪具体性能指标：
叶分析测量参数：可全自动地大批量分析计算叶面积，并可以叶片目标边缘标记来核对其正确性。可同时分析多张叶片，及分析≤1mm平方的叶片。叶面积  (可累计面积)、叶片面积（可累计面积)、叶子穿孔面积  (可累计面积)、叶片长度和宽度、叶柄长度、叶周长  (不受叶片孔洞影响)、叶片周长、叶片长宽比、叶片形状系数、自定义长度和角度测量，叶片锯齿高度、宽度、数量测量，叶孔面积测量；包膜（齿-齿之间的直线长度和），包膜形成的投影面积；不规则叶片形态分析，真彩的病斑、虫损面积分析（含2/3以上叶片被严重虫损的虫损叶面积分析），叶片颜色分档分析(具有按英国皇家园林协会RHS比色卡的比色特性，包括按叶片颜色自动分档查询，用于氮肥状态的外观评价)。同时分析多片叶时，可得到叶片总面积、周长等参数，也可得到其中每一片叶片的周长、面积等参数。配野外活体拍照采样，其具有对拍照图像自动校正与标定的功能。具有对玉米叶、水稻叶等长形叶的自动拼接辅助特性。
扫描叶面积测量误差  <±0.5%(10cm2以上面积)，重现性误差  <±0.2%。拍照叶面积测量误差  <±0.8%(10cm2以上面积)，重现性误差  <±0.2%。测量分析分辨率0.01mm，分析时间  <2秒。可测量植物的叶绿素相对含量或“绿色程度”。可提取分析往下拍照图像的【作物冠层指数】信息。
2.植物根系可分析测量：1)根总长；2)根平均直径；3)根总面积；4)根总体积；5)根尖计数；6)分叉计数；7)交叠计数；8)根直径等级分布参数；9)根尖段长分布，10）可不等间距地自定义分段直径，自动测量各直径段长度、投影面积、表面积、体积  等，及其分布参数；11）能进行根系的颜色分析，确定出根系存活数量，输出不同颜色根系的直径、长度、投影面积、表面积、体积。12）能进行根系的拓扑分析，自动确定根的连接数、关系角等，还能单独地自动分析主根或任意一支侧根的长度和分叉数等，可单独显示标记根系的任意直径段相应各参数（分档数、档直径范围任意可改，可不等间距地自定义），并能进行根的分叉裁剪修正，修正操作能回退，以快速获得100%正确的结果。13）能用盒维数法自动测根系分形维数；14）大批量的全自动根系分析，对各分析结果图可编辑修正。精度：根长≤±1%；面积：优质图像质量时<1%，标准图像质量时≤3%。匹配专门的双光源照明系统，提供高分辨率的彩色或黑白图像，去除了阴影和不均匀现象的影响，有效保证图像质量。采用非统计学方法测量计算出交叉重叠部分根系长度等，可读取TIFF、BMP、JPEG、PNG标准格式的图像。此外，还具有【去根毛】、【去伪分叉】等强化分析的特性。可兼做针叶面积、体积测量，以及棉纤维粗细、长度测量。  
3.植物年轮测量分析：可自动判读年轮数、各年轮平均宽度、早材及晚材宽度、各年轮切向角度和面积。可自动划分出年轮边界、早材边界、晚材边界，以及识别出很窄的树轮，可交互删除伪年轮、插入断年轮，可自动生成分析年表。具有【精细】分析选项，可自动分析出≤0.2mm宽度的年轮，分析获得的测量数据具备进一步做交叉定年、数据分析处理能力
4.瓜果剖面各部位分析：1).可测西瓜的：纵径、横径、果形指数、总面积、皮厚、空心面积、瓤色分档分析、外周长；2).可测哈密瓜等甜瓜的：纵径、横径、果形指数、截面积、肉厚、外周长、瓤色分档分析、种腔（纵径、横径、面积）；3).可测苹果、梨等的：纵径、横径、果形指数、总面积、核心面积、肉色分档分析、外周长；4).可测柑橘类水果的：纵径、横径、果形指数、总面积、皮厚、肉色分档分析、外周长。还可分析木材的边材面积。
5.最大扫描测量分析叶面积35.6  cm×21.6  cm，最大根系分析面积30  cm  x20  cm，最小分辨尺寸0.008  x0.008  mm。野外拍照最大测量叶面积为A4幅面。
6．辅助测量功能：
尺寸标定：自带标定功能，实现半自动的尺寸标定，XY向可分别标定修正；
长度测量：具有跟随放大镜功能，通过鼠标拖动精确测量；
  7．数据导出：分析图像结果可保存，自动形成总报表，统计分析结果能输出至Excel表。