深圳膜厚仪_深圳膜厚仪_杭州宏鼎测绘有限公司

深圳膜厚仪主要性能优势：
采用极速探测器技术
分辩率zui低至125eV
探测信噪比更强，检出限更低
采用大功率X光管及先进的数字多道技术
光闸系统，提高测试效率与测试精度
精密的定位系统，更清晰的显示测试点
多点测试，多点连续测试超小样品检测
人性化的设计：更安全、更快捷：预约预热：预约关机
深圳膜厚仪技术指标：
ROHS检测仪型号：IDP-7300
测试对像：粉未、固体、液体
元素分析范围：钠（Na）—铀（U）
同时zui多可测元素：36种
含量分析范围：1PPM—99.99%
工作稳定性：总荧光强度为0.1%
测量时间：60—200秒
仪器分辨率：127eV±5
进口高端（64位）DSP数字信号处理芯片
全自动对点探测系统鼠标点击，自动对点
电控全自动机盖升降软件***控制
多道分析器：4096道
高压电源：电压范围0～50KV，稳定度每小时小于0.05%
外型尺寸：720mm×560mm×450mm（不包括支脚）
测量仓：400mm×280mm×100mm
仪器重量：70公斤
zui低检出限：Cd/Cr/Hg/Br≤1ppm、Pb/Sb/Se/Ba≤2ppm、Cl≤5ppm
产品特点
操作界面简单，测量方便，快捷；
采用127±5eV的高精度分辨率，保证数据测量的精度；
能够检测卤族元素的精确含量；
电制冷型的X光管配合光管保养程序，散热更好，并能有效的延长X光管的寿命；
外观高贵大方，加大仪器内部空间，仪器内部通风性优，并有效屏蔽电磁干扰；
采用独特双峰位快速自动校准；
自动谱线识别、多元素同时定性定量分析、让用户方便认识分析样品的组成；
国际ling先的定量分析算法，包含FP法、检量线法、经验系数法、理论系数法、神经网络算法等；
客户可根据自已的要求进行二次开发，自行开发任意多个分析方法；
设置了自动安全防护开关，以确保用户安全使用；
无损检测，在无标准样品时亦可准确分析；
同置高清晰摄像头，可帮助客户判断测量的部位。
膜厚仪
http://www.delptek.net/delptek88-SonList-937367/
http://www.chem17.com/st221123/erlist_937367.html

深圳膜厚仪

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