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XTOM——三维光学面扫描系统
XTOM三维面扫描系统基于双目立体视觉原理，采用国际最先进的外差式多频相移三维光学测量技术，测量精度、测量速度等性能都达到国际最先进水平，与传统的格雷码加相移方法相比，测量精度高，抗干扰能力强、受被测工件表面明暗影响小，可以扫描测量几毫米到几十米的工件和物体。广泛适用于各种需求三维数据的行业，如汽车工业、飞机工业、摩托车外壳及内饰、家电、雕塑等。 |
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应用范围
功能特色
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规格型号
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| 产品型号 |
TOPSCAN-TC 单目型 |
TOPSCAN-MIC 教育型 |
TOPSCAN-EDU 教育四目 |
TOPSCAN-ET 工业型 |
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相机像素 |
1×1300000 ~2000000 | 2×1300000 ~2000000 | 4×1300000~2000000 | 2×1300000 ~4000000 |
| 扫描范围 |
128×96mm
400×300mm
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32×24mm
64×48mm
128×96mm
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128×96mm
400×300mm
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128×96mm
400×300mm
800×600mm
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| 测量精度 | 0.02 ~0.04mm | 0.008~0.015mm | 0.03~0.05mm | 0.015~0.03mm |
| 采样点距 | 0.15 mm~0.3mm | 0.08~0.15mm | 0.12~0.25mm | 0.10~0.25mm |
| 扫描方式 | 非接触式扫描 | |||
| 输出格式 | ASC，STL、PLY | |||
| 扫描时间 | 3~5S | |||
| 拼接方式 |
标志点全自动拼接，手动选点拼接 |
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898995850
