全自动二次元影像测量仪,增强型二次元定制
五、同轴照明。同轴光的形成通过垂直墙壁出来的变化发散光，射到一个使光向下的分光镜上，从上面通过分光镜看物体，适合对检测高反射的物体和受周围环境产生阴影的影响检测面积不明显的物体。
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二次元影像测量仪是利用光学原理进行检测工件，在进行二次元操作时了解一些照明的方式能够更好的帮助测量工件，而快速地选择工件照明方式能够提高二次元的测量效率。
一、直接照明。光直接射向物体得到清楚的影像。通用照明一般采用环状或点状照明，而环灯是一种常用的通用照明方式，很容易安装在镜头上给漫反射表面提供足够的照明，在需要得到高对比度物体图像的时候，这种类型的光很有效，但是用它照在光亮或反射的材料上时会引起像镜面的反光。
二、背光照明。是从物体背面射过来均匀视场的光，通过相机可以看到物面的侧面轮廓，背光照明产生了很强的对比度，常用于测量物休的尺寸和定物体的方向。但应用背光技术时候可能会丢失物体表面特征。
三、漫射照明。连续漫反射照明应用于物体表面的反射性或者表面有复杂的角度。应用半球形的均匀照明以减小影子及镜面反射，这种照明方式对于完全组装的电路板照明非常有用。
四、暗场照明。相对于物体表面提供低角度照明，如果在视野内能看见光源就认为使亮场照明，相反的在视野中看不到光源就是暗场照明，而光源是亮场照明还是暗场照明与光源的位置有关。
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