锁相热成像参数_optotherm红外热分析显微镜-立特为智能电话：15219504346 （温先生）

关键词：  Optotherm IS640 SENTRIS，Thermal Emission Microscope system

1. 它的应用非常广泛，去封装的芯片分析，未去封装的芯片分析，电容，FPC,甚至小尺寸的电路板分析（PCB、PCBA）,这也就让你可以在对样品的不同阶段都可以使用thermal技术进行分析，如下图示例，样品电路板漏电定位到某QFN封装器件漏电，将该器件拆下后现漏电改善，对该器件焊引线出来，未开封定位为某引脚，开封后扎针上电再做分析，进一步确认为晶圆某引线位置漏电导致，如有需要可接着做SEM,FIB等分析。

未开封器件分析

开封器件分析

2. 它能侦测的半导体缺陷也非常广泛，微安级漏电，低阻抗短路，ES击伤，闩锁效应点，金属层底部短路等等，而电容的漏电和短路点定位，FPC,PCB,PCBA的漏电，微短路等也能够精确定位

lock-in锁相分析

开封芯片漏电分析

GAN-SIC器件

3，它是无损分析：作为日常的失效分析，往往样品量稀少，这就要求失效分析技术最好是无损的，而对于某些例如陶瓷电容和FPC的缺陷，虽然电测能测出存在缺陷，但是对具体缺陷位置，市场上的无损分析如XRAY或超声波，却很难进行定位，只能通过对样品进行破坏性切片分析，且只能随机挑选位置，而通过Thermal 技术，你需要的只是给样品上电，就可以对上述两种缺陷进行定位

FPC缺陷分析

电容缺陷分析

4,锁相热成像（LOCK IN THERMOGRAPHY）：利用锁相技术，将温度分辨率提高到0.001℃，5um分辨率镜头，可以侦测uA级漏电流和微短路缺陷，远由于传统热成像及液晶热点侦测法（0.1℃分辨率，mA级漏电流热点）

5，系统能够测量芯片等微观器件的温度分布，提供了一种快速探测热点和热梯度的有效手段，热分布不仅能显示出缺陷的位置，在半导体领域

在集成电路操作期间，内部结自加热导致接合处的热量集中。器件中的峰值温度处于接合处本身，并且热从接合部向外传导到封装中。因此，器件操作期间的精确结温测量是热表征的组成部分。

芯片附着缺陷可能是由于诸如不充分或污染的芯片附着材料，分层或空隙等原因引起的。Sentris热分析工具（如 图像序列分析）可用于样品由内到外的热量传递过程，以便确定管芯接合的完整性。

OPTOTHERM Sentris 热射显微镜系统作为一台专业为缺陷定位的系统，专为电子产品FA设计，通过特别的LOCK-IN技术，使用LWIR镜头，仍能将将温度分辨率提升到0.001℃（1mK），同时光学分辨率最高达到5um,尤其其软件系统经过多年的，具有非常易用和实用，以下是OPTOTHERM Sentris 热射显微镜系统分析过程的说明视频

LEADERWE (‘Leaderwe intelligent international limited ‘and ‘ShenZhen Leaderwe Intelligent Co.,Ltd‘)作为Optotherm公司中国代表（独家代理），在深圳设立optotherm红外热分析应用实验室，负责该设备的演示和销售，如有相关应用，可提供免费测试。

深圳市立特为智能有限公司LEADERWE立为包括立为智能国际有限公司和深圳市立特为智能有限公司，是一家专业提供电子、材料等领域分析及检测设备的综合供应商！

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用红外热像仪检测散热效率
红外热像仪是一种采用非接触式测温的设备，通过对物体表面的热分布成像和分析，可迅速准确地现物体的热缺陷。在电子和半导体行业的温度分布、功耗设计和研究、散热效果分析、PCB布局、维修检测等方面，灵活使用红外热像仪，研人员能显著提高散热设计各个环节的工作效率。
红外热像仪在使用时有如下特点：
1）非接触，不用担心触电风险；
2）“看见”热，比经验和直觉耗时更少，定位更准确
3）“看”小物体的热成为可能
一、快速热负载
红外热像仪可对产品的温度分布清晰直观成像，帮助研人员精准热分布，定位热负荷过大区域，让后续的散热设计更有针对性和目的性。
二、散热方案验
设计阶段会有很多种散热方案，红外热像仪可帮助研人员快速、直观地不同散热方案效果，从而确定技术方案。
三、散热材料选择
确定散热方案后，研人员需对供应商提供的不同规格的散热材料进行测试筛选，达到散热指标和成本的均衡。比如在手机等电子产品中，通常会使用铝箔贴片、石墨散热薄膜等柔性导热材料用于散热，这些材料不同的品牌、工艺和规格，散热效果也会不一样，利用红外热像仪，研人员可快速散热效果，综合考虑性能指标和成本确定合适的材料。由iPhone和小米引领的石墨散热膜有效的解决了高性能的散热问题，并成为新的研究和热点。
锁相热成像参数_optotherm红外热分析显微镜-立特为智能，像素点本身没有足够的时间达到所测量场景的温度值。它仍需要4倍多的时间常数才能达到稳定的温度。因此对于高速移动的物体，在测温是就可能出现误差形成热像的拖影导致图，锁相热成像参数_optotherm红外热分析显微镜-立特为智能想有两桶水：一桶是装满已搅拌均匀的0c冰水，另一桶是快速沸腾的100c沸水。让微测辐射热计红外热像仪先对准冰水测温，然后马上对准沸水（100c的跃阶输入），记录，锁相热成像参数_optotherm红外热分析显微镜-立特为智能流柜会对热像仪造成干扰（一般此类现场电流会超过10万安培以上）。红外热像仪的主要组成红外热像仪由多个常用组件组成，包括镜头、镜头盖、探测器和处理电子元件、控件、，锁相热成像参数_optotherm红外热分析显微镜-立特为智能就可以测量出温度数据，但是这个距离也是有范围限制的，当然不可能做到无限远的那种效果。那到底要怎么判断呢？下面就来说一个判断的小技巧。最远的话，要保被测目标在成像。